Realizan primera prueba en campo de 4G+ Carrier Aggregation

5GBanda anchaEmpresasI+DInnovaciónMovilidadRedesWLAN

China Mobile Communications Corporation, junto con Qualcomm y Huawei unieron esfuerzos para experimentar en producción la evolución de LTE TDD.

China Mobile Communications Corporation (CMCC) recientemente inició pruebas de campo a gran escala de la tecnología LTE TDD Carrier Aggregation (CA) de enlace ascendente en cinco ciudades chinas. La prueba se espera se complete durante durante el este mes diciembre, demuestra un gran avance significativo hacia la comercialización a gran escala de la tecnología LTE TDD Carrier Aggregation de enlace ascendente.

Teniendo en cuenta los avances en procesamiento de los smartphones, así como la capacidad de generar contenido integral con imágenes y video, mejorar el enlace ascendente en las redes celulares de telefonía móvil es un avance significativo para ofrecer una mejor experiencia a los usuarios móviles.

A la prueba se agregaron las empresas fabricantes de equipos de comunicación Qualcomm, que participa con modems Snapdragon LTE con tecnologías avanzadas de CarrierAggregation de enlace ascendente, y Huawei, con infraestructura de comunicación con CA y mejoras de software que permiten que las redes evolucionen a LTE-A.

CA de enlace ascendente es una función base para incrementar la velocidad y, junto con CA de enlace descendente, es una de las tecnologías LTE-Advanced clave que impulsan dramáticamente las velocidades de conexión 4G+ generales.

Yuhong Huang, vicepresidente del Instituto de Investigación CMCC, asegura en un comunicado que la prueba de campo a gran escala de Carrier Aggregation de enlace ascendente muestra una mejor experiencia de usuario.

“De esta forma podremos acelerar la comercialización de Carrier Aggregation de enlace ascendente, ya que es un proceso importante en la construcción de la red CA líder a nivel mundial de CMCC y el consecuente lanzamiento de dispositivos comerciales”, aseguró el directivo.

Leer la biografía del autor  Ocultar la biografía del autor